简要描述:美国Trio-Tech 半导体高加速压力测试系统,高加速应力测试(HAST)结合了高温、高湿度、高压和时间,以测量元件的可靠性,无论是否具有电偏置。HAST测试以受控的方式加速了更传统测试的压力。它本质上是一种腐蚀失效测试。腐蚀型故障加速,在较短的时间内发现包装密封,材料和接头等缺陷。偏置高加速压力测试(BHAST)利用与HAST测试相同的变量(高压,高温和时间),但增加了电压偏差。BHAST测试
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品牌 | 其他品牌 | 应用领域 | 电子,航天,汽车,电气,综合 |
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测试箱规格 | 18*24in | 外尺寸 | 77*108*190cm |
可用空间 | 50*60*48cm | 重量 | 1586kg |
电源要求 | 220V 50Hz | 温湿度 | 105-133@100RH |
最大压力 | 56SI | 均匀度 | 1.5度/5% |
功耗 | 2500W@110度 85%RH | 最大装载 | 50-60kg |
高加速应力测试(HAST)结合了高温、高湿度、高压和时间,以测量元件的可靠性,无论是否具有电偏置。HAST测试以受控的方式加速了更传统测试的压力。它本质上是一种腐蚀失效测试。腐蚀型故障加速,在较短的时间内发现包装密封,材料和接头等缺陷。
偏置高加速压力测试(BHAST)利用与HAST测试相同的变量(高压,高温和时间),但增加了电压偏差。BHAST测试的目标是加速设备内的腐蚀,从而加快测试周期。
HAST加速压力测试与THB测试类似,因为故障是由相同的机制引起的。由此产生的故障以成比例的速率发生,并且可以在激活引擎之间找到相关性。电气设备/组件更可靠,因此,数千小时的THB测试无法在短时间内发现HAST腐蚀故障测试的弱点。
型的HAST测试条件包括110或130°C的温度,85%RH的湿度和96小时的测试运行时间。一旦高度加速的压力测试完成,测试的样品将用防潮袋返回给客户,并带有测试时间标签。HAST测试通常遵循JEDEC规范JESD22 A110,“高加速温度和湿度压力测试(HAST)"。
JESD22-A118 (无偏)
JESD22-A110 (偏置)
IEC 60068-2-66
l HAST已被开发用于取代温度 - 湿度偏差(THB)测试
l HAST使用110至130 ⁰C的测试温度,与THB测试相比,将测试时间缩短至96小时
l 干燥)高温 130C, 相对湿度 85%, 压力 33.3 psia
l (湿)高温110C,相对湿度35%,压力17.7标准
l 电子学
l 半导体
l 太阳能
l 药品
l 空间应用
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