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美国Trio-Tech 半导体高加速压力测试系统

简要描述:美国Trio-Tech 半导体高加速压力测试系统,高加速应力测试(HAST)结合了高温、高湿度、高压和时间,以测量元件的可靠性,无论是否具有电偏置。HAST测试以受控的方式加速了更传统测试的压力。它本质上是一种腐蚀失效测试。腐蚀型故障加速,在较短的时间内发现包装密封,材料和接头等缺陷。偏置高加速压力测试(BHAST)利用与HAST测试相同的变量(高压,高温和时间),但增加了电压偏差。BHAST测试

  • AG百家乐官网平台型号:HAST 1000
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-09-24
  • 访  问  量:1375

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品牌其他品牌应用领域电子,航天,汽车,电气,综合
测试箱规格18*24in外尺寸77*108*190cm
可用空间50*60*48cm重量1586kg
电源要求220V 50Hz温湿度105-133@100RH
最大压力56SI均匀度1.5度/5%
功耗2500W@110度 85%RH最大装载50-60kg

高加速应力测试(HAST

1       AG百家乐官网平台介绍

    高加速应力测试(HAST)结合了高温、高湿度、高压和时间,以测量元件的可靠性,无论是否具有电偏置。HAST测试以受控的方式加速了更传统测试的压力。它本质上是一种腐蚀失效测试。腐蚀型故障加速,在较短的时间内发现包装密封,材料和接头等缺陷。

    偏置高加速压力测试(BHAST)利用与HAST测试相同的变量(高压,高温和时间),但增加了电压偏差。BHAST测试的目标是加速设备内的腐蚀,从而加快测试周期。

HAST加速压力测试与THB测试类似,因为故障是由相同的机制引起的。由此产生的故障以成比例的速率发生,并且可以在激活引擎之间找到相关性。电气设备/组件更可靠,因此,数千小时的THB测试无法在短时间内发现HAST腐蚀故障测试的弱点。

型的HAST测试条件包括110130°C的温度,85%RH的湿度和96小时的测试运行时间。一旦高度加速的压力测试完成,测试的样品将用防潮袋返回给客户,并带有测试时间标签。HAST测试通常遵循JEDEC规范JESD22 A110,“高加速温度和湿度压力测试(HAST)"。

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 1测试实录


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 2测试实录

    

参考标准

JESD22-A118 (无偏)

JESD22-A110 (偏置)

IEC 60068-2-66

3       性能特点

l  HAST已被开发用于取代温度 - 湿度偏差(THB)测试

l  HAST使用110130 ⁰C的测试温度,与THB测试相比,将测试时间缩短至96小时

l  干燥)高温 130C 相对湿度 85% 压力 33.3 psia

l  (湿)高温110C,相对湿度35%,压力17.7标准

4       应用领域

l  电子学

l  半导体

l  太阳能

l  药品

l  空间应用


高加速应力测试(HAST


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